闭锁体磁粉检测黑色线磁痕产生原因

• 作者: 张友登 张彦文 杨志婷 陶勇
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 磁粉检测 黑色线磁痕 负偏析 磁导率 裂纹
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 页码范围: 75-77,78
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1747字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/wsjc201609020

摘要

在对火箭炮用闭锁体进行磁粉检测时，批量出现疑似裂纹的黑色线磁痕。经低倍检验、光学显微镜及扫描电镜分析后发现，黑色线磁痕的形成是由于负偏析引起，不是裂纹，属于非相关显示。结果表明：只要连铸时选择合适的电磁搅拌强度和搅拌时间，就可以减轻负偏析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彦文		21	31	3.0	4.0
2	张友登		10	4	1.0	1.0
3	杨志婷		4	4	1.0	2.0
4	陶勇		2	2	1.0	1.0