金属腔内场线耦合干扰敏感性

• 作者: 刘强 周小兰 周海京 赵翔 闫丽萍
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 场线耦合 Agrawal 模型 敏感性 并矢格林函数 电磁兼容
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 复杂电磁环境
• 页码范围: 023201-1-023201-6
• 页数: 1页
• 分类号: O441.4
• 字数: 3630字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201628.023201

摘要

研究了金属腔内电磁场与单导线耦合对线两端部件产生干扰的敏感性问题。利用并矢格林函数计算腔内场分布，利用 Agrawal 模型计算获得导线两端负载的干扰响应，从腔体尺寸、内部干扰源位置及导线位置三个方面分析了建模的微小变化对导线负载干扰的影响。结果表明，腔体尺寸的微小变化会带来负载干扰响应的很大变化，在谐振点处该影响尤其明显；腔内干扰源位置的微小变化可能会带来负载干扰响应的巨大变化；干扰响应对导线距离金属腔壁高度的微小变化不敏感，但单导线位置的微小变化可能带来负载干扰的较大变化。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周海京		120	495	10.0	14.0
2	赵翔	四川大学电子信息学院	75	291	10.0	14.0
3	闫丽萍	四川大学电子信息学院	81	446	11.0	19.0
4	刘强		31	47	3.0	5.0
5	周小兰	四川大学电子信息学院	1	1	1.0	1.0