无氧铜和铁镍钴合金太赫兹波导传输损耗

• 作者: 冯进军 唐烨
• 来源期刊: 太赫兹科学与电子信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 太赫兹 无氧铜 铁镍钴合金 镀金 传输损耗
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 太赫兹科学技术
• 页码范围: 825-828
• 页数: 4页
• 分类号: TN25
• 字数: 1558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11805/TKYDA201606.0825

摘要

对无氧铜、铁镍钴合金和镀金铁镍钴合金制作的WR2.8太赫兹波导进行了传输损耗的研究.通过对比实验测得的传输损耗值,计算出340 GHz频段,无氧铜电导率为1.6×107 S/m,铁镍钴合金电导率为1.0×106 S/m,相对磁导率为2.1,损耗参数的设置对正向设计具有指导作用.实验中,通过镀金工艺降低了铁镍钴合金波导的传输损耗,进而明确波导内壁镀金工艺可以有效降低传输损耗,对降低太赫兹标准窗的传输损耗有着实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯进军	北京真空电子技术研究所微波电真空器件国家级重点实验室	84	447	12.0	17.0
2	唐烨	北京真空电子技术研究所微波电真空器件国家级重点实验室	5	68	3.0	5.0