FPGA可编程逻辑模块的BIST测试方法

• 作者: 张铜 成本茂 黄葵
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列 可编程逻辑模块 内建自测试 测试向量生成器 输出响应分析器
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 新特器件
• 页码范围: 152-154
• 页数: 3页
• 分类号: TN710
• 字数: 1704字
• 语种: 中文

摘要

提出了一种针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法。测试向量生成器（TPG）采用伪穷举法来生成测试向量，输出响应分析器（ORA）采用多输入特征寄存器（Multi－Input Shift Register，MISR）捕获原始输出并进行压缩。在QuatusⅡ9．0中进行了测试实现与仿真。结果表明，该方法不仅能够检测出电路中存在的故障，而且大大提高了测试效率。