基于位流回读的VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法研究

• 作者: 介百瑞 张洪 阎哲 阮爱武
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 边界扫描 位流回读 存储器 测试系统
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TN791
• 语种: 中文

摘要

介绍一种采用位流回读针对VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法.该测试方法基于自主研发的FPGA测试平台,该测试系统能够对FPGA配置、施加测试向量、回收测试响应、并对故障进行诊断与定位,整个测试完全自动化,不需要人工干预.该测试系统的优点为设备简单、易于实现、完全自动化.在该测试系统的基础上,针对VirtexⅡ系列FPGA内嵌核Block RAM提出了基于边界扫描和位流回读的测试方法.该方法首次将位流回读技术应用于FPGA的测试,基于位流回读的测试方法为FPGA的测试打开一个新的领域,对研究FPGA的测试方法有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮爱武	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	16	110	6.0	10.0
2	张洪	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	7	32	4.0	5.0
3	阎哲	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	1	1.0	1.0
4	介百瑞	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	1	1.0	1.0