高功率微波电子器件易损性评估仿真研究

• 作者: 严聪 唐鑫 杨建军
• 来源期刊: 计算机仿真
• 学科: 工学
• 关键词: 极限学习机 模糊处理 高功率微波 电子器件 易损性 评估
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 仿真智能化
• 页码范围: 354-357,374
• 页数: 5页
• 分类号: TN015
• 字数: 4271字
• 语种: 中文

摘要

研究高功率微波作用下电子器件的损伤评估问题.由于电子器件损伤实验的破坏性特点,基于成本控制等原因,电子器件的微波效应实验数据很有限,在有限的实验数据下分析预测电子器件的未知损伤特性,对于预测方法的效率、精度、泛化性要求很高.传统的预测方法往往仅满足某一方面,难以从各个方面实现综合预测电子器件损伤特性.为提高有限实验数据下电子器件损伤特性预测的综合性能,提出将模糊数据处理方法与极限学习机相结合用于电子器件的易损性评估中.首先使用模糊数据处理方法对实验数据进行处理,其次将其输入到极限学习机中进行训练和预测,并与常规的几种预测方法及改进极限学习机的预测结果进行了对比分析,同时通过实验对预测结果进行了验证.结果表明,构建的预测模型计算简洁高效,精度可观.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨建军	空军工程大学科研部研究中心	139	819	14.0	20.0
2	严聪	空军工程大学防空反导学院	38	135	7.0	9.0
3	唐鑫	空军工程大学科研部研究中心	18	48	4.0	6.0