集成电路高功率微波易损性预测评估模型

• 作者: 张治强 方进勇 江伟华 黄文华
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 高功率微波 易损性评估模型 集成电路 人工神经网络
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 高功率微波应用
• 页码范围: 565-568
• 页数: 4页
• 分类号: TN051
• 字数: 1812字
• 语种: 中文

摘要

介绍了集成电路高功率微波易损性的基本概念,给出了利用人工神经网络建立集成电路高功率微波易损性预测评估模型的基本步骤,通过一个实例,对预测评估模型的有效性进行了检验.实践表明:人工神经网络作为一个有效工具,可以较好地应用到集成电路高功率微波易损性预测评估工作中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江伟华	清华大学电机系	22	310	11.0	17.0
2	黄文华		46	381	12.0	18.0
3	方进勇	清华大学电机系	19	219	9.0	14.0
5	张治强		19	86	6.0	8.0