微波集成电路的老炼试验技术

• 作者: 任俊华 王弘英 赵鑫燚
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微波集成电路 老炼试验 夹具 自激振荡 可靠性
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TN454|TB114.37
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.012

摘要

微波集成电路(MIC)是雷达和微波通信系统中的关键部分,其可靠性试验对于保证交付产品的质量具有重要的作用.老炼试验是可靠性筛选的关键一环,因而也是产品质量保证的重要手段.对MIC老炼试验技术进行了研究,并针对老炼夹具的设计、ESD与EMP防护和自激振荡的预防与消除提出了具体的解决措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王弘英	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	17	3.0	3.0
2	任俊华	中国电子科技集团公司第十三研究所	1	3	1.0	1.0
3	赵鑫燚	中国电子科技集团公司第十三研究所	1	3	1.0	1.0