集成电路可靠性升级试验

• 作者: 夏泓 江理东
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性 升级试验 集成电路 工程应用
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与研究试验
• 页码范围: 40-44
• 页数: 5页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.02.009

摘要

介绍了进口单片集成电路的质量等级、批次可靠性升级试验及其工程应用事例.提出了升级试验设计主要项目是:升级筛选试验、B组检验和DPA;可靠性升级试验是解决高可靠型号工程用电路质量、进度、经费问题的一种有效办法.并且较深入地研究了可靠性升级试验的工作程序和方法,为工程应用提供借鉴和指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江理东		1	2	1.0	1.0
2	夏泓		1	2	1.0	1.0