利用金属环聚焦的HTS薄膜Rs分布测试法的研究

• 作者: 宁俊松 张洁 曾成 补世荣 褚青如 陈柳
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高温超导 分布测试 金属环 分辨率
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 电子信息材料与器件
• 页码范围: 156-160
• 页数: 5页
• 分类号: TN98
• 字数: 3039字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.01.021

摘要

介绍了一种测试高温超导薄膜微波表面电阻分布的新方法。该方法利用镜像法相关原理，通过引入金属环实现介质谐振器和腔体的能量汇聚，解决了高温超导薄膜微波表面电阻的分布测试通用性与高分辨率不兼容的问题。根据该方法研制了工作在32 GHz的频率下，工作模式为TE012+δ的测试装置，其分辨率为直径5 mm，面积19.6 mm2的圆面。测试装置对一片两英寸YBCO/LAO/YBCO超导薄膜样品进行了13个点的表面电阻分布测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	补世荣	电子科技大学光电信息学院	39	184	8.0	12.0
2	曾成	电子科技大学光电信息学院	12	27	3.0	5.0
3	张洁	电子科技大学光电信息学院	12	46	3.0	6.0
4	宁俊松	电子科技大学光电信息学院	18	96	5.0	9.0
5	陈柳	电子科技大学光电信息学院	4	3	1.0	1.0
6	褚青如	电子科技大学光电信息学院	1	0	0.0	0.0