弹载速调管存储寿命技术研究

• 作者: 周军 杨继涛 欧阳佳佳 王坤
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 速调管 真空度 存储
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性专题
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TN122
• 字数: 2930字
• 语种: 中文

摘要

本文针对弹载速调管的长寿命存储技术开展了科学研究,通过理论分析及试验验证,查明了速调管存储失效的原因,并进行了技术改进,改进后的试验结果表明改进措施切实有效.本文提出了一种新型的适用于弹载速调管的真空度的检测方法,并据此制订了弹载速调管的存储筛选试验方案.最终验证采用此研究成果制备的弹载速调管其储存寿命可以达到12年.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王坤		3	0	0.0	0.0
2	周军		7	1	1.0	1.0
3	杨继涛		6	1	1.0	1.0
4	欧阳佳佳		7	1	1.0	1.0