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摘要:
开展了一种基于MEMS工艺的微波/毫米波薄膜负载电阻的结构设计和工艺实现,该负载电阻选择TaN作为薄膜材料,高阻硅为基底材料,仿真设计并优化了三种新型结构,给出了一套MEMS TaN薄膜负载电阻制备的工艺流程,并针对该工艺流程方案进行了关键参数的工艺误差仿真,实现了适用于20~40 GHz频率内的三种MEMS TaN薄膜负载电阻的工艺制作和测试.测试结果表明,结构一、结构二和结构三的回波损耗分别小于-22,-18和-18.5 dB,并将结构一成功运用于32~34 GHz毫米波频段内的MEMS隔离器,MEMS隔离器的隔离度大于25 dB,插入损耗小于0.5 dB.MEMS TaN薄膜负载电阻具有很好的负载吸收功能,适合微波/毫米波通信发展需求.
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文献信息
篇名 MEMS微波/毫米波TaN薄膜负载电阻的设计与实现
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 微电子机械系统(MEMS) TaN薄膜 负载电阻 毫米波 隔离器
年,卷(期) 2017,(5) 所属期刊栏目 MEMS与传感器
研究方向 页码范围 336-341
页数 6页 分类号 TH703
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2017.05.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨拥军 中国电子科技集团公司第十三研究所 44 220 7.0 13.0
2 杨志 9 50 4.0 7.0
3 李倩 3 10 1.0 3.0
4 汪蔚 中国电子科技集团公司第十三研究所 4 6 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
微电子机械系统(MEMS)
TaN薄膜
负载电阻
毫米波
隔离器
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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微纳电子技术
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