X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2

• 作者: 卜兆杰 王晓旋 谈昭君 黄健强
• 来源期刊: 中国无机分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 萤石 氟元素 粉末压片法 x射线荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 冶金与材料
• 页码范围: 55-58
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34|TH744.15
• 字数: 2104字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1035.2017.03.014

摘要

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响.采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF2及CaCO3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO3的含量.精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66％(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈昭君		3	6	1.0	2.0
2	卜兆杰		10	8	1.0	2.0
3	王晓旋		7	7	1.0	2.0
4	黄健强		2	6	1.0	2.0