基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
本文研究了用×-射线荧光光谱仪压片法快速测定矿石中锡含量.试样1.0000g与3.0000g糊精混匀,压制成片,测定电压和电流分别为50kV和70mA.以康普顿散射线为内标,经验系数法校正基体干扰.锡的测定范围(0.005~10×10-2).检出限0.002%,相对标准偏差:(0.67~7.1%).标准物质测定值与国家标准物质推荐值一致,试样测定值与苯革取-苯芴酮分光光度法和等离子体发射光谱法测定值一致.
推荐文章
能量色散X-射线荧光光谱法测定锡精矿中砷锌铁铜
X-射线能量色散荧光光谱法
锡精矿
X射线荧光光谱压片法测定工业硅中Fe的含量
X射线荧光光谱仪
压片法
工业硅
Fe
X射线荧光光谱法快速测定锰矿石的Mn 含量
X射线荧光光谱法
粉末压片法
锰矿石
粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、钠、钛、铅、锌、砷
X射线光谱仪
压片制样
铁矿石
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 X-射线荧光压片法测定矿石中锡含量
来源期刊 现代科学仪器 学科 地球科学
关键词 X-射线荧光 压片
年,卷(期) 2017,(4) 所属期刊栏目 分析测试技术与方法
研究方向 页码范围 93-98
页数 6页 分类号 P575.4
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张孟星 3 8 1.0 2.0
2 梁文先 1 0 0.0 0.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (14)
共引文献  (13)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1999(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2004(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2005(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2007(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2008(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2009(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2010(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2017(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
X-射线荧光
压片
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代科学仪器
双月刊
1003-8892
11-2837/TH
大16开
北京海淀区西三环北路27号理化实验楼512室
1984
chi
出版文献量(篇)
4906
总下载数(次)
12
总被引数(次)
20682
论文1v1指导