电离辐射诱导造血干细胞损伤的分子机制研究进展

• 作者: 刘强 徐畅 方连英 杜利清 王彦 王芹
• 来源期刊: 基础医学与临床
• 学科: 医学
• 关键词: 电离辐射 造血干细胞 凋亡 分化 衰老
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 短篇综述
• 页码范围: 256-260
• 页数: 5页
• 分类号: R3
• 字数: 3303字
• 语种: 中文

摘要

电离辐射（IR）诱导的造血干细胞（HSCs）损伤是IR后引发机体死亡的主要原因，其损伤机制主要涉及P53-Puma通路诱导HSCs凋亡；激活G-CSF／Stat3／BATF依赖性的分化检验点促进HSCs分化；ROS-P38通路诱导HSCs衰老以及损伤HSCs龛。近期研究为预防和治疗电离辐射引起的骨髓抑制提供了理论基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐畅	中国医学科学院北京协和医学院放射医学研究所天津市核医学重点实验室	14	21	3.0	4.0
2	王芹	中国医学科学院北京协和医学院放射医学研究所天津市核医学重点实验室	30	107	6.0	8.0
3	王彦	中国医学科学院北京协和医学院放射医学研究所天津市核医学重点实验室	21	85	5.0	8.0
4	杜利清	中国医学科学院北京协和医学院放射医学研究所天津市核医学重点实验室	21	45	4.0	5.0
5	方连英	中国医学科学院北京协和医学院放射医学研究所天津市核医学重点实验室	1	9	1.0	1.0