顶空-气相色谱-质谱法测定整形用有机硅制品中两种硅氧烷

• 作者: 吴建军 朱力敏 薛民杰
• 来源期刊: 上海计量测试
• 关键词: 气相色谱-质谱法 顶空进样 整形用有机硅制品 八甲基环四硅氧烷(D4) 十甲基环五硅氧烷(D5)
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 字数: 2364字
• 语种: 中文

摘要

采用气相色谱-质谱法对整形用有机硅制品中八甲基环四硅氧烷(D4)及十甲基环五硅氧烷(D5)进行测定,并采用顶空富集方法.与溶剂萃取富集法比较,文中提出的顶空分离法具有不需用大量萃取溶剂,简化了操作步骤,加快了分析速度等优点.D4和D5的质量浓度在一定范围内与其峰面积呈线性关系.同时考察了方法的最低检测浓度和重复性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建军		16	70	4.0	7.0
2	朱力敏		8	17	2.0	3.0
3	薛民杰		11	17	2.0	3.0