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光学元件激光诱导损伤分析及实验研究
光学元件激光诱导损伤分析及实验研究
作者:
周岩
李成福
沈璐
王洪祥
白桦
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
激光制造
激光损伤阈值
表层杂质
亚表面缺陷
化学刻蚀
摘要:
通过激光损伤实验,系统分析了传统研磨抛光加工工艺中表面杂质、刻蚀时间、亚表层缺陷和划痕宽深比对熔石英元件激光损伤阈值的影响.结果表明:擦洗后熔石英元件的激光损伤阈值为21.6J/cm2,未经擦洗的元件的激光损伤阈值为11.28J/cm2,受表层杂质影响激光损伤阈值大幅度降低,而有缺陷位置处的激光损伤阈值明显比无缺陷位置处的低.刻蚀时间的增加会使工件表面粗糙度和缺陷尺寸逐渐增大,导致光学元件激光损伤阈值大幅度下降,因此需要合理选择化学刻蚀时间.亚表层缺陷会对入射光场产生调制作用,造成局部区域反射光、散射光及入射光相互叠加,最终导致材料破坏而产生激光损伤.随着刻蚀时间的增加,划痕的宽深比会逐渐增大,可以逐渐减弱划痕对光场的调制作用,从而降低激光损伤发生的概率.
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文献信息
篇名
光学元件激光诱导损伤分析及实验研究
来源期刊
中国激光
学科
工学
关键词
激光制造
激光损伤阈值
表层杂质
亚表面缺陷
化学刻蚀
年,卷(期)
2017,(3)
所属期刊栏目
激光制造
研究方向
页码范围
92-98
页数
7页
分类号
TG580.692
字数
语种
中文
DOI
10.3788/CJL201744.0302006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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白桦
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王洪祥
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16.0
23.0
3
周岩
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289
8.0
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4
沈璐
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李成福
5
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节点文献
激光制造
激光损伤阈值
表层杂质
亚表面缺陷
化学刻蚀
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国激光
主办单位:
中国光学学会
中科院上海光机所
出版周期:
月刊
ISSN:
0258-7025
CN:
31-1339/TN
开本:
大16开
出版地:
上海市嘉定区清河路390号 上海800-211邮政信箱
邮发代号:
4-201
创刊时间:
1974
语种:
chi
出版文献量(篇)
9993
总下载数(次)
26
总被引数(次)
105193
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