基于频率响应的数控机床伺服性能优化

• 作者: 李作庆
• 来源期刊: 工业技术创新
• 学科: 工学
• 关键词: 数控机床 频率响应 伺服性能 Bode图
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 系统改造
• 页码范围: 120-122,127
• 页数: 4页
• 分类号: TG659
• 字数: 1361字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14103/j.issn.2095-8412.2017.03.033

摘要

基于频率响应测试方法,对数控机床伺服参数优化策略进行了研究.根据机床伺服控制器结构,结合控制过程,提出电流环、速度环及位置环在不同参数下的调试方案.从频率响应Bode图考察伺服性能,表明优化策略具有通用性,能够准确反应伺服系统的闭环带宽及机械谐振频率等信息,为准确设定伺服控制参数奠定基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李作庆		2	1	1.0	1.0