康普顿照相中的背景噪声分析

• 作者: 于明海 单连强 吴玉迟 周维民 张天奎 曹磊峰 朱斌 杨靖 王少义 董克攻 谭放 谷渝秋 闫永宏
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 康普顿照相 背景噪声 高能X射线 内爆 靶丸面密度
• 年，卷（期）: 2017,（11）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 17-21
• 页数: 5页
• 分类号: TL817.2
• 字数: 3388字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.170257

摘要

康普顿照相是用于压缩靶丸成像、诊断内爆压缩对称性的一种有效技术手段.如何屏蔽成像过程中的背景噪声是康普顿照相技术的重点问题,同时也是一个难点问题.分析了靶环境以及各种背景信号的来源,并提出了相应的屏蔽建议.通过分析可以看到,在中子产额小于1013 sr-1、压缩靶丸中心温度小于5 keV时,通过使用相应的屏蔽措施并采用合适的诊断措施和记录设备,可以把背景噪声降至109 sr-1以下,使康普顿照相中的面密度测量精度达到5%左右.