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采用Spice仿真解决磁绕组邻近损耗难题
采用Spice仿真解决磁绕组邻近损耗难题
作者:
Ray idley
冯文飞
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
Spice软件
交流损耗
邻近
绕组
真解
仿真电路
电流波形
摘要:
本文我们将介绍如何使用Spice软件为磁绕组提供邻近损耗的结果。邻近损耗方程用于解决一组频率问题,因而产生了一个仿真电路,以预测正确的交流损耗,而不考虑电流波形。
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篇名
采用Spice仿真解决磁绕组邻近损耗难题
来源期刊
磁性元件与电源
学科
工学
关键词
Spice软件
交流损耗
邻近
绕组
真解
仿真电路
电流波形
年,卷(期)
2017,(8)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
133-134
页数
2页
分类号
TP311
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磁性元件与电源
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出版周期:
月刊
ISSN:
2522-6142
CN:
开本:
出版地:
广州市天河区中山大道中启星商务中心D座5
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创刊时间:
语种:
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4500
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