随机耦合模型中损耗因子的分析与获取

• 作者: 乐波 杨浩 林江川 闫二艳
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 随机耦合模型 损耗因子 高功率微波效应 电磁干扰
• 年，卷（期）: 2017,（10）
• 所属期刊栏目: 复杂电磁环境
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: O415.5
• 字数: 3044字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201729.170152

摘要

随机耦合模型(RCM)是研究电磁脉冲干扰下波混沌系统中感应电压统计预测的新方法,其中波混沌腔体损耗因子的获取是这种方法使用的关键.从随机耦合模型理论出发,分析了损耗因子对腔体阻抗随频率变化特性的影响,探讨了不同损耗因子下归一化阻抗矩阵的统计特性,提出了使用腔体散射阻抗与辐射阻抗的比值作对照,以快速获取腔体损耗因子的新方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闫二艳	中国工程物理研究院复杂电磁环境科学与技术重点实验室	21	76	5.0	7.0
5	杨浩	中国工程物理研究院复杂电磁环境科学与技术重点实验室	6	4	1.0	1.0
9	乐波		7	7	1.0	2.0