纳米银线与Ag@SiO2的制备及表征

• 作者: 刘海燕 唐建国 李潇 王彦欣 王瑶 黄林军
• 来源期刊: 山东化工
• 学科: 工学
• 关键词: Ag@SiO2 粒径分布 紫外光谱 TEM表征
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 所属期刊栏目: 科研与开发
• 页码范围: 1-2,7
• 页数: 3页
• 分类号: TB383.1
• 字数: 2308字
• 语种: 中文

摘要

采用多元醇法制备出直径200 nm左右的纳米银线,然后在乙醇中以二氧化硅为壳层包覆纳米银线制备出壳层结构的纳米复合材料Ag@SiO2.紫外分光光度计可以表征出纳米银线样品中的成分,分析紫外发射光谱可以证明纳米银线的生成;通过动态光散射粒径分布分析仪可以表征出纳米银线的粒径分布;电子透射电镜(TEM)可以表征出纳米银线及Ag@SiO2的表面形态,并能测量出纳米银线的直径和二氧化硅壳层结构的厚度.