全光多输人多输出信号处理中光采样耦合器的优化

• 作者: 付松年 刘德明 唐明 范鑫磊
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤光学 全光多输人多输出 光采样 插入损耗 矩阵条件数
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 光纤光学与光通信
• 页码范围: 79-85
• 页数: 7页
• 分类号: TN929.11
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS201737.0406004

摘要

光采样耦合技术是全光多输人多输出(MIMO)信号处理中的关键技术.模式相关损耗(MDL)和插入损耗(IL)是影响器件性能的关键因素,矩阵条件数可以用于衡量光采样耦合器的性能.对支持3个线偏振模式(LP01,LP11a,LP11b)全光MIMO信号处理的光采样耦合器进行了理论分析.在3个采样点的情况下,对采样光斑的大小和位置进行优化,将矩阵条件数作为优化条件,并将MDL和IL分别降低至0.03 dB和1.90 dB.研究发现,通过增加采样点的数目可以降低器件的IL,优化后得到的MDL和IL分别为0.04 dB和1.56 dB.尽管增加采样点的数目可以降低IL,在少模光纤及采样点的几何限制下,仍存在最优采样点数目.