基于VEE的MEMS滤波器在片测试系统

• 作者: 孙天玲 崔玉兴 张力江 杨志虎 马杰
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: Agilent VEE MEMS滤波器 在片测试系统
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 124-125,130
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 1558字
• 语种: 中文

摘要

MEMS滤波器具有小型化、低插损、高带外抑制等优点,是微波通信系统研究的重要方向之一.随着MEMS滤波器需求量的不断增加,传统的手动测试筛选方式已经不能满足多通道组件装配的需求.本文采用Agilent VEE作为软件开发平台,设计了一种MEMS滤波器自动测试系统.该系统实现了滤波器在片微波测试和数据自动存储,能够满足大规模测试的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔玉兴	中国电子科技集团公司第十三研究所	30	88	6.0	8.0
2	张力江	中国电子科技集团公司第十三研究所	13	32	3.0	5.0
3	马杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	6	23	3.0	4.0
4	孙天玲	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	0	0.0	0.0
5	杨志虎	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	0	0.0	0.0