基于正交调制的频率特性测量系统改进设计

• 作者: 卲高平 宋伟中 李小亮 王照平
• 来源期刊: 实验技术与管理
• 学科: 工学
• 关键词: 频率特性 FPGA 正交调制 程控增益
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器设备研制与应用
• 页码范围: 99-104
• 页数: 6页
• 分类号: TM935
• 字数: 4707字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16791/j.cnki.sjg.2017.05.025

摘要

对基于正交调制的频率特性测量系统做了优化设计.基于扫频信号源频率输出范围为100 kHz~40 MHz.为提高扫频精度,扫频模式分为全频扫描和分段扫描,频率分辨率有1 kHZ和10 kHZ两种;为满足不同测量网络需求以及提高测量精度,设计了程控增益放大电路,其增益可调范围为数学34 dB~14 dB,增益步进值为4 dB,使得放大器输出信号幅度满足20 mV~5 V要求;采用有效消除噪声的方法进一步提高了系统测量精度.改进后的测试系统幅频特性测量误差小于0.5dB,相频特性测量精度优于2°.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王照平	黄河科技学院信息工程学院	28	81	4.0	7.0
2	李小亮	黄河科技学院信息工程学院	15	35	4.0	5.0
3	宋伟中	黄河科技学院信息工程学院	2	4	1.0	2.0
4	卲高平	解放军信息工程大学信息系统工程学院	1	4	1.0	1.0