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Proteus在硬标签质量参数测量设计中的应用
Proteus在硬标签质量参数测量设计中的应用
作者:
朱丹
盛庆元
蔡晓霞
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
硬标签
Proteus
谐振频率
品质因素
摘要:
电子商品防盗系统(EAS)中的硬标签电路是由磁棒线圈和电容串联而成,其组成的LC电路谐振频率只和品质因素Q是硬标签的关键质量参数.针对此类硬标签参数检测的市场需求,在研制便携式标签质量Fx、Q值检测仪过程中,设计了一种四线圈结构传感探头感知被测参数的方法,并采用Proteus软件对此传感探头的等效电路模型进行仿真,验证此测量方法的可行性;同时以AT89C51为处理器设计了便携式检测仪的软硬件,采用Keil和Proteus联调联试,仿真达到预期效果,为下一步仪器开发提供了技术支持.
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篇名
Proteus在硬标签质量参数测量设计中的应用
来源期刊
微型机与应用
学科
工学
关键词
硬标签
Proteus
谐振频率
品质因素
年,卷(期)
2017,(11)
所属期刊栏目
应用案例
研究方向
页码范围
94-97
页数
4页
分类号
TP212.1
字数
2154字
语种
中文
DOI
10.19358/j.issn.1674-7720.2017.11.028
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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G指数
1
蔡晓霞
17
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朱丹
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5.0
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盛庆元
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节点文献
硬标签
Proteus
谐振频率
品质因素
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
主办单位:
华北计算机系统工程研究所(中国电子信息产业集团有限公司第六研究所)
出版周期:
月刊
ISSN:
2096-5133
CN:
10-1543/TP
开本:
大16开
出版地:
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
邮发代号:
82-417
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
10909
总下载数(次)
33
总被引数(次)
35987
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