光功率分配器(PLC)偏振相关损耗的测试及影响因素

• 作者: 朱华
• 来源期刊: 中国科技投资
• 关键词: PLC 测试 PDL 影响因素
• 年，卷（期）: 2017,（32）
• 所属期刊栏目: 机械与工艺
• 页码范围: 264
• 页数: 1页
• 字数: 2051字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5811.2017.32.248

摘要

针对PLC(Planar Light wave Circuit平面波导)光分路器的参数测试,用多台不同波长的光源、光功率计、偏振控制器等对PLC器件的PDL指标进行测试.快速测量该器件偏振相关损耗(PDL)指标,并分析其影响因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱华		2	0	0.0	0.0