原子力显微镜在膜技术中的应用

• 作者: 马丽艳 马晓军
• 来源期刊: 天津科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 原子力显微镜 膜技术 应用进展
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 特约综述
• 页码范围: 1-6,73
• 页数: 7页
• 分类号: TQ028.8
• 字数: 4812字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13364/j.issn.1672-6510.20180070

摘要

在简要介绍原子力显微镜(AFM)的工作原理和特点的基础上,详细阐述了原子力显微镜在三维形貌观测、膜的表面粗糙度、膜的透过通量、成分分析、成膜机理研究和膜表面污染程度等方面的应用,进一步比较原子力显微镜与其他显微分析技术的不同.原子力显微镜在膜技术方面显示了强大的应用能力,由此推动膜技术的迅猛发展.同时,AFM存在一些不足,对于组成复杂的薄膜,不能获得深层次的结构和化学分析.因此,AFM需要研发更多新的分子探针,以实现对薄膜多种组分的识别和成像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马晓军	天津科技大学包装与印刷工程学院	71	410	11.0	17.0
2	马丽艳	天津科技大学包装与印刷工程学院	3	3	1.0	1.0