晶体硅光伏组件EL测试的缺陷分析

• 作者: 宋昊 张超 李华锋 王喜炜 白建波 程安琪
• 来源期刊: 太阳能
• 关键词: 光伏组件 电致发光 隐性缺陷 PID EL
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 技术产品与工程
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 字数: 1440字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0417.2018.02.001

摘要

主要利用电致发光(EL)手段对晶体硅光伏组件产生的裂纹、断栅和黑片等隐性缺陷进行分析研究,测试组件的最大功率;将有明显隐性缺陷的组件与无明显隐性缺陷的组件进行对比,分析各性能参数的差异,同时研究缺陷对功率的影响及缺陷产生的原因.另外,为研究黑片对组件的影响,选取组件做PID试验,观察试验后的组件EL图像和功率衰减情况,分析黑片产生原因及其对组件性能产生的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张超	河海大学机电工程学院	27	153	7.0	11.0
2	白建波	河海大学机电工程学院	21	125	6.0	10.0
3	王喜炜	河海大学机电工程学院	3	9	2.0	3.0
4	宋昊		3	2	1.0	1.0
5	李华锋	河海大学机电工程学院	5	11	2.0	2.0
6	程安琪	河海大学机电工程学院	1	2	1.0	1.0