γ全能峰右高左低现象理论分析

• 作者: 冯天成 刘文彪 王雪梅 田自宁 苏川英 陈伟
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: γ能谱 全能峰 偶然符合
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 所属期刊栏目: 核物理、交叉学科研究
• 页码范围: 50-54
• 页数: 5页
• 分类号: TL81
• 字数: 2949字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2018.hjs.41.010501

摘要

用HPGeγ谱仪对高活度放射性样品进行测量时,在能谱中出现了全能峰右侧明显高于左侧的现象,为准确定量分析γ放射性核素带来困难.通过理论分析,详细解释了该现象产生的原因,实验验证了理论分析结论是正确的.分析结果表明,全能峰右侧高于左侧的现象主要由偶然符合效应引起,并且总体上全能峰左右两侧高度的比值随死时间增大先增后减,当死时间小于等于1.0％时,全能峰左右两侧高度近似相等,当死时间位于1.0％-4.0％时,峰左右高度比值随死时间而增大,当死时间位于4.0％-56％时,峰左右高度比值随死时间增加而减小.并通过实验结果与LabSOCS计算结果对比,显示右高左低这种现象并不会对点源的能谱测量造成影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟		95	286	8.0	11.0
2	冯天成		42	96	5.0	7.0
3	苏川英		21	55	5.0	6.0
4	田自宁		20	25	3.0	4.0
5	刘文彪		10	6	2.0	2.0
6	王雪梅		6	3	1.0	1.0