电阻率成像法在深基坑渗漏探测中的应用

• 作者: 吴宇豪 廖智 张耀镭 徐磊 蔡克俭 黎蕾蕾
• 来源期刊: 工程地球物理学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 深基坑 电阻率成像法 地下连续墙 渗漏探测
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 页码范围: 519-524
• 页数: 6页
• 分类号: P631.3
• 字数: 2587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7940.2018.04.018

摘要

地下连续墙作为地下工程一种常见的围护结构,在施工过程中的渗漏问题一直是基坑安全控制的主要环节之一,基坑渗漏会造成不必要的经济损失和危及人身安全.采用任意观测装置采集视电阻率数据的观测方式,基于最小二乘反演进行电阻率成像,通过在不同时期多次观测地下连续墙外侧接触地层电阻率的变化规律,推测地下连续墙的渗漏情况,达到探测地下连续墙渗漏的目的.并将该方法应用于天津软土地区的深大基坑渗漏探测中,取得了较好的效果,证明了方法的有效性,为工程实践提供了依据,具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎蕾蕾	重庆大学航空航天学院	19	104	7.0	9.0
2	蔡克俭		7	37	3.0	6.0
3	廖智		6	43	3.0	6.0
4	张耀镭		6	10	2.0	3.0
5	徐磊		4	9	2.0	3.0
6	吴宇豪		2	5	1.0	2.0