典型电容近炸引信发火控制部件储存寿命预测方法

• 作者: 吴英伟 王洪岩 齐杏林
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 电容近炸引信 发火控制部件 储存性能试验 性能退化敏感参数 威布尔分布模型 寿命预测
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 页码范围: 6-11
• 页数: 6页
• 分类号: TJ430
• 语种: 中文

摘要

针对库存典型电容近炸引信发火控制部件储存性能退化研究较少、储存质量变化规律尚不明确的问题,提出了基于储存性能试验的引信发火控制部件寿命预测方法.该方法提出了基于储存性能试验的寿命预测一般步骤,介绍了性能退化分布模型,并结合发火控制部件组成结构特点和相关性能要求,对在北方无温湿度控制的自然条件下,储存 2~8 年有包装筒密封和无包装筒密封的引信发火控制部件开展性能试验,从而确定发火控制部件的性能退化敏感参数,最终采用威布尔分布模型对发火控制部件进行寿命预测.预测结果表明,该发火控制部件有包装筒密封状态下储存寿命为 20.707 年,无包装筒密封状态下储存寿命为 20.165 年.

作者信息

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1	吴英伟		1	0	0.0	0.0