基于VCS的固存坏块仿真系统设计与应用

• 作者: 刘国斌 刘攀 宁静 祝周荣 陈恩耀
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: VCS 仿真 固存 坏块管理
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 264-267,293
• 页数: 5页
• 分类号: TN913.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.04.068

摘要

NAND Flash固态存储器(固存)广泛应用于航天工程,受限于微电子特性及制造工艺,固存在出厂及使用过程中均会产生坏块,通常由固存控制FPGA(现场可编程门阵列)来管理并标记坏块;为保证固存控制FPGA对坏块管理的正确性、健壮性,必须对其进行严格验证;提出了基于VCS的固存坏块仿真验证系统,为固存控制FPGA提供了所需的外围接口,特别是提供了固存坏块反馈机制,令固存坏块产生时机受控;实时向FPGA反馈固存读写过程及产生的坏块信息;将坏块表建立、维护和固存响应过程记录到数据文件;实现了坏块分布的可配置性和仿真系统的闭环性、可记录性;仿真系统可有效发现坏块管理的设计缺陷,进而优化设计,提高航天固存产品可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祝周荣		10	19	3.0	4.0
2	陈恩耀		5	8	1.0	2.0
3	刘攀		3	1	1.0	1.0
4	刘国斌		8	13	3.0	3.0
5	宁静		2	1	1.0	1.0