篇名 | 探讨用最巨大仪器研究最微小粒子(四)nm工艺流程仪器及代工全球60%芯片制造的tsmc-OEM模式制造“智能” (上) | ||
来源期刊 | 仪器仪表标准化与计量 | 学科 | |
关键词 | 光刻 电子束摇摆器 极紫外 离子束注入参杂 晶圆 大规模集成电路 原始设计制造商 原始设备制造商 原始品牌制造商 台积电-OEM模式 | ||
年,卷(期) | 2018,(4) | 所属期刊栏目 | 热点聚焦 |
研究方向 | 页码范围 | 1-8 | |
页数 | 8页 | 分类号 | |
字数 | 9560字 | 语种 | 中文 |
DOI | 10.3969/j.issn.1672-5611.2018.04.001 |