基于阵列天线测试的远场条件分析

• 作者: 季一钧 朱玉权 邹慧
• 来源期刊: 舰船电子对抗
• 学科: 工学
• 关键词: 电扫阵列 通道校准 子阵方向图 远场条件
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: TN821.8
• 字数: 2476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16426/j.cnki.jcdzdk.2018.05.022

摘要

分析了阵列天线远场通道校准测试中,远场条件选择与通道幅相数据误差之间的关系,给出了幅相误差计算公式,对相控阵列电扫方向图随远场条件变化情况进行了说明,并讨论了子阵工作模式下的子阵方向图以及指向差畸变情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹慧	中国船舶重工集团公司第七二三研究所	3	1	1.0	1.0
2	季一钧	中国船舶重工集团公司第七二三研究所	1	1	1.0	1.0
3	朱玉权	中国船舶重工集团公司第七二三研究所	1	1	1.0	1.0