一种芯片电容高精度批量测试设备设计

• 作者: 冯国兵 刘书萌 王龙 陈俊凯
• 来源期刊: 信息技术与网络安全
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片测试 高精度电容测量 流程测试 STM32F103ZET
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 工业自动化技术
• 页码范围: 117-120,124
• 页数: 5页
• 分类号: TP271
• 字数: 2680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19358/j.issn.2096-5133.2018.06.025

摘要

芯片封装与测试工艺中,需对芯片电容进行测量完成合格性筛选,国内厂家目前多采用人工测试或购买国外的昂贵的电容测试设备.从应用角度出发,设计了批量自动化电容测量设备.该设备采用多路位置传感器与步进电机组成闭环控制系统,并加入安全控制与告警机制.试验表明该系统可实现芯片卷带自动、安全、可靠测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王龙	中国电子信息产业集团有限公司第六研究所	4	1	1.0	1.0
2	刘书萌	中国电子信息产业集团有限公司第六研究所	3	3	1.0	1.0
3	冯国兵	中国电子信息产业集团有限公司第六研究所	3	3	1.0	1.0
4	陈俊凯	中国电子信息产业集团有限公司第六研究所	2	2	1.0	1.0