磁元件绕组损耗的直接测量法

• 作者: 叶建盈 郑荣进 陈为 黄晓生
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁元件 绕组损耗 辅助绕组 测量 端口
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 电力电子变压器
• 页码范围: 1369-1374,后插10
• 页数: 7页
• 分类号: TM552
• 语种: 中文
• DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.171980

摘要

磁元件中磁芯损耗和绕组损耗作为一个元器件中的两部分损耗两者本身难以分离开,目前还没有一种有效的既能测量给定励磁工况下磁元件绕组损耗,又能直接测量功率变换器中磁元件绕组损耗的测量评估方法.提出了一种可直接测量磁元件绕组损耗的方法,在磁元件中引入一个辅助绕组,通过分析被测绕组端口和辅助绕组端口之间电参数的关系,得到只体现被测绕组损耗的电参数,以获得被测绕组的损耗.最后,以空心电感作为测试对象,采用高精度的功率测量仪器对绕组损耗进行测量,通过阻抗测量法结合计算空心电感绕组损耗的方法进行验证,验证了所提方法的可行性和准确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈为		171	1274	19.0	31.0
2	叶建盈		6	39	3.0	6.0
3	黄晓生		5	83	4.0	5.0
4	郑荣进		1	0	0.0	0.0