一种改进的基于故障分析的逻辑加密算法

• 作者: 冯建华 张小飞 黄一鸣
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 逻辑加密 组合逻辑电路 密钥门 多路选择器
• 年，卷（期）: 2018,（1）
• 页码范围: 1-5,9
• 页数: 6页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文

摘要

为了保护IC设计人员的知识产权,本文提出了一种改进的基于故障分析的逻辑加密算法,选择多路选择器作为密钥门电路,并根据其工作特性改善原有的故障分析算法.采用本方法加密后的电路与原电路输出相比可以实现更好的汉明距离.而且,与原故障分析方法相比,该方法只需采用更少的密钥门即可实现目标汉明距离.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张小飞	北京大学微电子学研究院	23	859	14.0	23.0
2	黄一鸣	北京大学微电子学研究院	1	2	1.0	1.0