X射线荧光光谱分析测定环境空气中无机元素

• 作者: 卓尚军 王群 申如香 盛成 钱荣 高捷
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线荧光光谱 空气滤膜 无机元素 NIST SRM2783
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 809-812
• 页数: 4页
• 分类号: X132
• 语种: 中文
• DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2018.0153

摘要

无需麦拉膜或聚丙烯膜覆盖在空气滤膜样品表面,使用普通液体杯、氦气介质下就可直接用WDXRF测量环境空气中的无机元素.用建立的方法测定了大气颗粒物标准膜样品NISTSRM2783,测定出的元素结果与标准值的相对标准偏差最大仅为4.1％.用建立的方法测定了4个实际滤膜样品中的Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Cu,Zn,Ba,Pb元素,并和等、离子体质谱(ICP-MS)、等离子体光谱(ICP-OES)的结果比较,结果显示本方法可靠,能够满足目前的监测需求和广泛使用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王群	中国科学院上海硅酸盐研究所	14	132	4.0	11.0
2	卓尚军	中国科学院上海硅酸盐研究所	31	343	12.0	17.0
3	钱荣	中国科学院上海硅酸盐研究所	10	53	4.0	7.0
4	盛成	中国科学院上海硅酸盐研究所	8	59	4.0	7.0
5	申如香	中国科学院上海硅酸盐研究所	10	197	6.0	10.0
6	高捷	中国科学院上海硅酸盐研究所	5	11	2.0	3.0