消光比与探测器噪声对基于纳米线栅偏振成像系统偏振精度的影响

• 作者: 孙翯 孙雪倩 王德江
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 偏振成像 偏振成像精度 纳米线栅 消光比
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2371-2379
• 页数: 9页
• 分类号: O436.3|TP79
• 字数: 4430字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20182610.2371

摘要

消光比和探测器噪声是决定纳米线栅偏振成像偏振精度的两个重要参数.为解决两参数在系统优化时的取值问题,本文建立了两参数与偏振噪声的数学模型,采用像元组接收光电子数作为衡量探测器噪声与系统偏振噪声的桥梁量化了两者关系.仿真分析比较了两参数在入射光偏振态变化时对偏振噪声的作用.然后搭建消光比和曝光时间可调的偏振成像系统精度实验平台,验证该数学模型和仿真结果.仿真与实验共同表明,系统消光比大于20后,通过提高像元组接收的光电子数以抑制探测器噪声要比继续提升消光比对提高系统偏振精度的贡献大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王德江	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所航空光学成像与测量重点实验室	43	240	9.0	14.0
2	孙翯	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所航空光学成像与测量重点实验室	4	5	1.0	2.0
3	孙雪倩	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所航空光学成像与测量重点实验室	1	0	0.0	0.0