石墨烯常用表征方法

• 作者: 杨晓 潘恒沛 郭海霞 陈政龙 高灵清
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 化学
• 关键词: 石墨烯 表面形貌 片层数量 缺陷 官能团 表征
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 89-97
• 页数: 9页
• 分类号: O613.71
• 字数: 6181字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl201802002

摘要

使用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、拉曼光谱仪(RS)、原子力显微镜(AFM)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)以及傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)等仪器设备,对3组氧化石墨还原法和物理法制备的石墨烯粉末以及3组化学气相沉淀(CVD)法制备的石墨烯薄膜试样的表面形貌、片层数量、缺陷情况以及官能团等进行了表征.通过试验结果的对比分析发现:SEM在石墨烯表面形貌分析方面最具优势;RS 能够很好地测定石墨烯薄膜的片层数量,而对于石墨烯粉末,AFM则更为适用;石墨烯缺陷情况分析方面,RS 相比于其他方法具有明显优势,能够对缺陷密度和类型进行计算和判定;XPS 不仅能够测试官能团的种类,还能够对其进行定量分析,是石墨烯中官能团表征的有效手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭海霞		18	37	3.0	5.0
2	杨晓		5	9	2.0	2.0
3	潘恒沛		4	3	1.0	1.0
4	高灵清		6	44	4.0	6.0
5	陈政龙		4	7	2.0	2.0