一种簇结构的胚胎电子细胞阵列

• 作者: 孟亚峰 朱赛 李丹阳 蔡金燕
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 胚胎电子细胞阵列 电子细胞簇 基因移位 平均失效前时间 硬件资源消耗
• 年，卷（期）: 2018,（3）
• 页码范围: 537-552
• 页数: 16页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 12686字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1093.2018.03.016

摘要

针对胚胎电子细胞阵列中存在的故障自修复能力有限、资源利用率低、硬件资源消耗大等问题,设计了一种由簇内开关盒、簇内电子细胞和控制单元构成的电子细胞簇结构.基于这种结构提出了一种簇内基因移位的故障自修复方法.仿真实验以累计加法器为例,对电子细胞簇的功能进行了验证,并对电子细胞簇的硬件资源消耗和基于簇结构的电子细胞阵列可靠性进行了分析.仿真和分析结果表明,基于基因移位的故障自修复方法在修复故障的同时可有效保存时序电路的中间状态,而且随着阵列规模的增大,基于簇的电子细胞阵列平均失效前时间更长,硬件资源消耗更低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟亚峰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	9	8	1.0	2.0
2	蔡金燕	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	7	2	1.0	1.0
3	朱赛	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	8	2	1.0	1.0
4	李丹阳	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	2	0	0.0	0.0