基于“U”型测试转台的集束美化天线测量系统

• 作者: 李耿 王杏林
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 集束美化天线 远场测试系统 “U”型测试转台 相位中心偏移
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TN820
• 字数: 2907字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2018.07.011

摘要

针对由移动通信系统中集束美化天线体积大、重量重、形状异于常规板状天线等特点引起的常规天线测试系统相位中心偏移问题,提出了基于“U”型测试转台的集束美化天线室内远场测量系统,采用横向滚筒式方式测量天线水平面辐射方向图,避免了天线滑落引起的相位中心偏移问题.实际测试表明,与常规天线测试系统相比,所提系统具有测试精度高、承重大、无相位中心偏移、测试过程转台旋转平稳均匀、测试可靠性高等优点,能够满足集束美化天线的测试需求,同时具有双通道多频点扫频测量功能,可以有效地提高测试效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王杏林	中国电子科技集团公司第五十四研究所检测认证中心	7	9	2.0	2.0
2	李耿	中国电子科技集团公司第五十四研究所检测认证中心	1	1	1.0	1.0