一种新的胚胎电子细胞阵列测试结构

• 作者: 孟亚峰 朱赛 李丹阳 蔡金燕
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 胚胎电子细胞阵列 测试结构 故障检测 故障定位 扫描测试
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 页码范围: 349-362
• 页数: 14页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 10943字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2017.0321

摘要

针对胚胎电子细胞阵列中测试结构与故障检测和定位方法受电子细胞和阵列结构限制较大,故障检测和定位能力有限,硬件消耗大等问题,提出一种由可配置边界扫描结构和可配置内部扫描结构组成的新的测试结构.基于这种测试结构,提出了寄存器传输级故障检测和细胞级故障定位相结合的故障检测和定位方法.仿真实验以s27电路为例,详细介绍了故障检测和定位的具体过程并对测试结构的硬件消耗进行了分析.仿真和分析结果表明,本文方法可有效检测并在细胞级定位故障,而且随着阵列规模增大,测试结构的硬件消耗所占比例明显下降,适用于大规模胚胎电子细胞阵列.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟亚峰	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	9	8	1.0	2.0
2	蔡金燕	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	7	2	1.0	1.0
3	朱赛	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	8	2	1.0	1.0
4	李丹阳	陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系	2	0	0.0	0.0