VUV信号强度与等离子体宏观参数相关性分析

• 作者: 刘海庆 吴承瑞 周凡 庄清 张涛 明廷凤 李凯 王嵎民 王智君 臧庆 高翔 黄娟 龙飞飞
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: VUV成像 中性束 等离子体 杂质水平
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 核科学与工程
• 页码范围: 141-145
• 页数: 5页
• 分类号: O536
• 字数: 2833字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201830.170378

摘要

东方超环(EAST)上高速真空紫外(VUV)成像系统是一套选择性测量中心波长为13.5 nm 的等离子体线辐射的光学成像系统.此系统具有高时空分辨能力,主要用于边界(包括台基区)等离子体行为研究.该系统已经投入 EAST等离子体物理实验并获得了大量的实验数据.基于这些数据,分析了 VUV 诊断系统的信号强度与等离子体宏观参数之间的相关性,着重研究了 EAST 上中性束注入(NBI)加热功率、杂质(碳和锂)水平、电子密度等因素对 VUV信号强度的影响.结果与预期基本一致:随着 NBI功率的增加,VUV信号强度随之增强;VUV 信号强度与电子密度、杂质水平呈现线性关系.此外,本文还评估了由于 NBI 注入引起的电荷交换复合产生的C5+离子对 VUV信号的贡献,结果表明这部分贡献可以忽略不计.