面向弹载计算机的BIT技术研究

• 作者: 张淑舫 王建才 边维 邓凯
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 航空航天
• 关键词: 弹载计算机 机内测试 故障检测率 虚警率
• 年，卷（期）: 2018,（17）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 231-237
• 页数: 7页
• 分类号: V19
• 字数: 7270字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1705-0141

摘要

机内测试(Built-In-Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径.在对弹载计算机BIT技术特征进行研究的基础上,提出了弹载计算机BIT设计的基本准则,提供了一种典型的弹载计算机BIT设计方法,经实践验证该设计方法适用于多种类型的弹载计算机设备,故障检测率不低于90％,故障虚警率不超过2％,显著地提高了弹载计算机的可靠性、可测试性及可维护性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张淑舫		4	4	1.0	2.0
2	邓凯		5	14	2.0	3.0
3	王建才		3	10	2.0	3.0
4	边维		1	0	0.0	0.0