关于LED光源黑化和排查方法的研究

• 作者: 许海文
• 来源期刊: 现代信息科技
• 学科: 工学
• 关键词: LED光源 黑化 排查方法 研究
• 年，卷（期）: 2018,（6）
• 所属期刊栏目: 电子工程
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TN312.8
• 字数: 3082字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4706.2018.06.015

摘要

本文对LED光源的黑化问题进行了研究、分析.经过研究后发现:除了因电源电压超高而击穿LED芯片;因电流值超过额定电流而烧毁LED芯片,还与LED贴片的支架有很大的关系.支架内的镀银层在硫及卤化物存在的情况下,会使镀银层硫化或者卤化,进而生成深色或黑色的化合物晶体,导致LED的光通量下降,直至完全失效.所以,必须对LED光源的材料单元进行排查,以排除LED中期失效和寿命期望值内的失效的因素.此外,本文中笔者还对镀银层硫化或者卤化的排查设备和排查方法作了简要的介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许海文		4	0	0.0	0.0