X射线粉晶衍射法结合显微镜薄片观测运用于具隐晶质岩石的鉴定

• 作者: 李杨
• 来源期刊: 中国金属通报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线粉晶衍射法 显微镜薄片鉴定 隐晶质岩石
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 管理及其他
• 页码范围: 246-247
• 页数: 2页
• 分类号: TF521
• 字数: 2327字
• 语种: 中文

摘要

岩石的鉴定方法最常见的有X射线粉晶衍射法及显微镜薄片鉴定两种方式,而在地质勘探当中,对于具隐晶质部分岩石的鉴定最为困难,为了找出该种岩石鉴定的合理方法,本次文章针对具隐晶质的岩石进行鉴定方法的对比分析,分别概述X射线粉晶衍射法及显微镜薄片鉴定法,以实际案例分析两种鉴定方法的优缺点,选出鉴定具隐晶质岩石更为有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李杨		2	1	1.0	1.0