微波自动测试系统校准技术

• 作者: 杨健 温英俊
• 来源期刊: 电子信息对抗技术
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 开关网络 不确定度分析
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 81-86
• 页数: 6页
• 分类号: TP274.4
• 字数: 4067字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2230.2019.03.018

摘要

传统微波产品的自动测试系统校准,普遍采用标准仪器计量和系统功能检查来完成,但测试系统的整体性能和技术指标没有进行评估,尤其是各个链路的校准、测量的准确性和控制总线的测量和校准.通过分析微波测量过程中,仪器、开关网络、射频电缆和接插件等因素的不确定度分析评定、重复性和稳定性的考核,以及控制总线的校准,实现了微波自动测试系统的综合校准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	温英俊		3	1	1.0	1.0
2	杨健		2	1	1.0	1.0