基于Wiener过程的数控转台极小子样可靠性分析

• 作者: 姜楠 张云 王立平
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 数控转台 Wiener过程 极大似然估计 可靠性估计
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 91-95
• 页数: 5页
• 分类号: TH122
• 语种: 中文
• DOI: 10.16511/j.cnki.qhdxxb.2019.22.001

摘要

针对数控转台性能退化过程较为缓慢且存在波动的特点,采用Wiener过程进行数学建模,利用极大似然法结合试验数据分析模型中各未知参数的特点.根据分析结果将模型中的漂移系数和扩散系数设为恒定值,假设性能退化初值服从正态分布,得出数控转台的相关可靠性函数,并与基于伪寿命分布法得出的结果进行比较.结果表明:基于Wiener过程得出的结果较基于伪寿命分布法得出的结果更加符合实际情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜楠		24	62	4.0	7.0
2	王立平		114	1749	24.0	37.0
3	张云		16	142	6.0	11.0